模塊一體化概念

模塊一體化概念和完整的激光掃描儀解決方案為各種應(yīng)用和表面檢測(cè)提供極高的靈活性。

及時(shí)發(fā)現(xiàn)偏差

省時(shí)省錢：該移動(dòng)式測(cè)量解決方案可作用于車間現(xiàn)場(chǎng)，帶來直觀的零件分析，測(cè)量以及數(shù)模建立。

用戶引導(dǎo)性的軟件工作流程

T-SCAN系統(tǒng)現(xiàn)與GOM Inspect Suite軟件套裝結(jié)合。用戶可在視察器上實(shí)時(shí)查看掃描進(jìn)度，并在掃描，探針探測(cè)和檢測(cè)過程中獲得軟件操作提示。

快速和高精度三維掃描

一系列出色的產(chǎn)品技術(shù)特征，比如適用于掃描各類物體表面的高動(dòng)態(tài)范圍，創(chuàng)新攝像技術(shù)，高品質(zhì)蔡司光學(xué)元件和高數(shù)據(jù)速率結(jié)合，確保了流暢的掃描過程和精確的測(cè)量結(jié)果。

動(dòng)態(tài)參考

即使在移動(dòng)的物體上也能高精度采集三維數(shù)據(jù)。動(dòng)態(tài)參考功能可以讓您不受零部件運(yùn)動(dòng)和震動(dòng)等惡劣條件影響，高效完成測(cè)量任務(wù)。

移動(dòng)式計(jì)量室，三維數(shù)據(jù)采集直觀

即刻捕捉三維數(shù)據(jù)，無需任何零件準(zhǔn)備工作。模塊化的T-SCAN系統(tǒng)形成一套直觀且高精度的三維計(jì)量解決方案:

· 手持式T-SCAN激光掃描儀

· 光學(xué)跟蹤系統(tǒng)T-TRACK

· 接觸式探針T-POINT  

· GOM Inspect Suite

接觸式探針ZEISS T-POINT

用于單點(diǎn)測(cè)量零件表面

· 測(cè)量切邊，標(biāo)準(zhǔn)幾何形狀或光學(xué)測(cè)量手段難以進(jìn)入的死角區(qū)域；

· 快速，穩(wěn)定地采集目標(biāo)位置的三維數(shù)據(jù)；

· 可與傳統(tǒng)的測(cè)量探針一起使用，更換起來方便快捷。

擴(kuò)展您的測(cè)量體積ZEISS T-SCAN SMTs

通過使用T-SCAN SMT（球形標(biāo)靶），您可以進(jìn)一步擴(kuò)展測(cè)量體積，甚至結(jié)合多個(gè)蔡司T-SCAN系統(tǒng)使用。當(dāng)被測(cè)零件尺寸過大，或者表面形狀阻礙激光投射時(shí)，您可以將這個(gè)方便的多位置跟蹤器安裝到物體上，從而獲得精度一致的三維數(shù)據(jù)。

高過程可靠性GOM Inspect Suite

GOM Inspect Suite擁有成熟的三維計(jì)量體系標(biāo)準(zhǔn)。蔡司T-SCAN 目前與GOM Inspect Suite多合一軟件解決方案實(shí)現(xiàn)同步結(jié)合。測(cè)量和檢測(cè)均可以在軟件中執(zhí)行，全參數(shù)化的工作流程確保所有過程步驟的可追溯性。此外軟件提供用戶操作指引，可輔助用戶進(jìn)行掃描和探測(cè)，從而簡(jiǎn)化并加快工作流程。

技術(shù)參數(shù)

隨箱攜帶的移動(dòng)計(jì)量室

· T-TRACK及其相關(guān)配件專用手提箱

· T-SCAN激光掃描儀及其控制器專用手提箱